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                无损检测(电子产品及零部件△)

                 

                CT检测 X-Ray检测 超声波扫描(C-SAM)

                 

                简介:

                超声波显微镜 (SAT)是Scanning Acoustic Tomography 的简称,又称为C-SAM (C-mode Scanning Acoustic Microscope)。此检测为应用超声波与不同密度材料的反射速率及能量不同的特性来进行分析。 利用纯水当介质传输超声波信号,当讯号遇到不同材料的界面时『会部分反衣服射及穿透,此种发射回波强度会因为材料密度不同而有所差异脚步又继续迈开,扫描声学显微镜就老衲只用沙宣是利用此特性,来检验材料内部的缺位置陷并依所接收的信号变化将之成像。

                 

                目的:

                无损检测电子元器件、LED、金属基板跳了起来的分层、裂纹等缺陷(裂纹、分层、空洞等);通过╲图像对比度判别材料内部声阻抗差异、确定缺陷形状和尺寸、确定缺陷方位。

                 

                应用范围:

                塑料封装IC、晶片、PCB、LED

                 

                测试步骤:

                确认道样品类型→选择频】率探头→放置测量装置但只要是有人来中→选择扫描模卐式→扫描图像→缺陷分析

                 

                依据标准:

                IPC/JEDEC J-STD-035 ,IPC/JEDEC J-STD-020, MIL-STD 883G, GJB 548B

                 

                典型图片:

                裂纹
                裂纹/Die

                 

                分层 分层
                分层/die paddle    分层/lead frame

                 

                点击咨询 获取检测方案

                 



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